Residual Stress: Measurement by Diffraction and Interpretation
Dr. Ismail C. Noyan, Prof. Jerome B. Cohen (auth.)Kategori:
Tahun:
1987
Edisi:
1
Penerbit:
Springer-Verlag New York
Bahasa:
english
Halaman:
276
ISBN 10:
1461395712
ISBN 13:
9781461395713
Nama seri:
Materials Research and Engineering
File:
PDF, 7.05 MB
IPFS:
,
english, 1987
Amazon 
Barnes & Noble 
Bookshop.org
Ingin menambahkan toko buku? Hubungi kami melalui support@z-lib.fm
Konversi file
Lebih banyak hasil pencarian
Manfaat yang lain 
Istilah kunci
Daftar buku terkait
